美国国家标准与技术研究所（NIST）的两种新标准参考材料为研究人员和制造商提供了一种方法来检查测量微观粒子电荷的仪器的性能。 SRM 是应行业要求在 NIST 与比利时欧盟委员会联合研究中心之间的独特合作中开发的。

       标准参考物质 SRM 1992 和SRM 1993 有助于确保使用电泳光散射和电声仪器进行测量的准确性。前一种技术使用外加电场中运动粒子散射的光来测量它们的速度；后者应用高频电场或声场来产生粒子振动，然后测量产生的声信号或电流。这些结果允许计算电泳迁移率、粒子相对于施加电场强度的速度以及 Zeta 电位，即粒子表面附近的电位。这些参考材料是第一个证明 Zeta 电位值的参考材料，Zeta 电位用于许多依赖微观粒子的行业。

例如，Zeta 电位被认为是纳米粒子是否可能保持均匀分散在流体中或聚集成团块从而阻碍其性能或对健康和环境构成威胁的关键指标。纳米颗粒被用作药物输送系统（例如，在最近发布的针对 COVID-19 的 mRNA 疫苗中）、抗生素涂层、颜料、纺织品和许多消费品，以及其他应用。

SRM 1992 和SRM 1993 由悬浮在水溶液中的胶体二氧化硅颗粒组成。 SRM 1992 是光散射方法的理想选择，而 SRM 1993 具有更高的颗粒浓度，适用于电声仪器的校准。它们可从 NIST 和联合研究中心作为 ERM-FD305 和 ERM-FD306 获得。