NIST SRM 1979粒度分析用粉末衍射线轮廓（标准品）旨在通过粉末衍射实验中的轮廓展宽程度来分析微晶尺寸。一个 SRM 1979 单元由两个氧化锌粉末样品组成，第一个样品的中值微晶尺寸约为 15 nm，第二个样品的中值微晶尺寸约为60 纳米。这些样品在下文中分别称为“15 nm 微晶”和“60 nm 微晶”。每个样品包含大约 3 克装在氩气气氛中的粉末。

SRM 材料是通过基于 Langford 等人报道的程序，通过草酸锌的分解制备的。 [1]。调整特定的退火程序以产生上述两个微晶尺寸范围。粉末的衍射图显示了堆叠的效果Langford 等人观察到的故障遵循 Warren [2] 开发的六边形模型。对于 15 nm 和 60 nm 微晶，通过激光散射测量，这两种粉末的中值粒径分别为 2.8 µm 和 7.7 µm；因此，两种粉末均由聚集的微晶组成。对由 X 射线粉末衍射数据确定的衍射线形状和晶格参数的分析确定了两种 SRM 材料在衍射特性方面是均匀的。

认证值：

NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高置信度的值，因为所有已知或可疑的偏差来源都已被调查或考虑在内。被测量是经验证的平均柱长，由 22 条衍射线的傅里叶分析确定，晶格参数为由 Pawley 分析确定。计量溯源性是国际单位制 (SI) 长度单位（以纳米表示）。表 1 至表 4 中提供了认证值和不确定度，并根据 ISO/JCGM 指南 [3] 中描述的方法计算。

信息值：

通过数据细化获得的微观结构参数的信息值如表 5 所示。通过激光散射测定的粒度分布信息数据如图 1 和图 2 所示。考虑了信息值是一个 SRM 用户会感兴趣和使用的值，但没有足够的信息来充分评估与该值相关的不确定性，或者它是从有限数量的分析中得出的值。信息值不能用于建立计量溯源性。

认证到期：

NIST SRM 1979粒度分析用粉末衍射线轮廓（标准品） 认证在规定的测量不确定度内无限期有效，前提是按照本证书中给出的说明处理和储存 SRM（参见“储存和使用说明”）。不需要定期重新认证此 SRM。证书作废如果 SRM 损坏、污染或以其他方式修改。这种材料会随着暴露在湿气中而降解。如果怀疑过度暴露，请停止使用。