产品名称:标准参考物质 NIST SRM 1976c - X射线粉末衍射仪器响应标准
英文名称:Instrument Response Standard for X-Ray Powder Diffraction
品牌:美国NIST标准物质
产品编号 | 规格 | 货期 | 销售价 | 您的折扣价 |
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SRM 1976c | 1 disc | 4周 | 11175 | 立即咨询 |
NIST SRM 1976c X射线粉末衍射仪器(标准品)由烧结氧化铝圆盘组成,用于校准 X 射线粉末衍射设备的线位置和强度作为 2θ 角的函数。 SRM 的固体形式消除了由样品加载过程引入的强度测量中的任何可变性。 SRM 1976c 的一个单元由一个直径约为 25.6 毫米、厚度为 2.2 毫米的烧结氧化铝圆盘组成。
材料说明:
用于生产此 SRM 的制造工艺是为生产电子元件基板而开发的。用作这些基材前体的氧化铝粉末具有高相纯度(刚玉结构),具有片状颗粒形态。血小板的直径通常为 5 μm 至 10 μm,厚度为 2 μm 至 3 μm。圆盘的压实过程导致轴对称纹理基面趋向于与圆盘表面平行。纹理的这种轴对称特性允许样品以任何关于表面法线的方向安装。使用小百分比的钙长石玻璃相对压块进行液相烧结。未检测到结晶杂质。液相烧结中涉及的玻璃相有效地防止了颗粒间的接触,并在从烧结温度冷却碎片的过程中松弛。这导致微应变的最小发展及其相关的线展宽;尽管可以检测到一些微应变,因为具有 tanθ 依赖性的高斯展宽。鉴于此,以及基本不存在微晶尺寸展宽,SRM 1976c 可用于获得仪器轮廓函数 (IPF) 的近似值。但是,不推荐使用 SRM 1976c 进行定量微观结构分析。包含该 SRM 原料的圆盘是在单一的专用生产运行中制造的,以确保微观结构在晶粒尺寸、形状、微应变和纹理方面的一致性。
认证值:
NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高置信度的值,因为所有已知或可疑的偏差来源都已被调查或考虑在内。被测量是表 1 中所示的相对强度(无量纲比)的认证值,以及表 2 中所示的晶格参数。计量溯源性是国际单位制 (SI) 单位,相对强度值是维度为一,对于晶格参数,维度是长度(以纳米表示)。认证值和不确定度是根据 ISO/JCGM 指南 [1] 中描述的方法计算的。
信息价值:
与 NIST SRM 1976c X射线粉末衍射仪器(标准品) 认证相关的分析包括计算表 3 中所示的衍射线位置。为了在各种光学配置的衍射设备上使用
SRM 1976c,必须考虑偏振的影响。表 4 中显示的值包括偏差
应用于认证值以说明这种影响。表 3 和表 4 的数据表示为信息值。信息值被认为是 SRM 用户感兴趣的值,但没有足够的信息来评估与该值相关的不确定性。信息值不能用于建立计量溯源性。