NIST SRM 1985 碳化钨/钴(标准品)主要用于校准用于测量 18 µm 至 55 µm 范围内的粒度分布 (PSD) 的设备。 SRM 1985 由一个装有大约 14 克碳化钨/钴粉的瓶子组成。

通过扫描电子显微镜 (SEM) 和激光散射 (LLS) 测量五个质量百分位数的 PSD 值。 SEM 和 LLS 结果的比较如图 1 所示。SEM 显微照片的示例如图 2 所示。

认证值：

经 SEM 认证的 PSD 值列于表 1。这些认证值是通过测量来自三个瓶子的 11 000 多个单个颗粒而确定的。 NIST 认证值是 NIST 对其准确性具有最高置信度的值，因为所有已知或可疑的偏差来源都已被调查或考虑在内 [1]。

参考值：

NIST SRM 1985 碳化钨/钴(标准品)LLS 的参考 PSD 值列在表 2 中。参考值是未经认证的值，是对真实值的估计。但是，这些值不符合 NIST 认证标准，并且提供了相关的不确定性，可能仅反映测量精度，可能不包括所有来源不确定性，或可能反映多种分析方法之间缺乏足够的统计一致性 [1]。

证书到期：

只要按照本证书中给出的说明处理和存储 SRM（参见“使用说明”），SRM 1985 的此证书在规定的测量不确定度内无限期有效。不需要定期重新认证此 SRM。如果 SRM 损坏、污染或以其他方式修改，则认证无效。

NIST SRM 1985 碳化钨/钴(标准品)

SRM 认证的维护：

NIST 将在其认证期间监控此 SRM。如果在本证书到期前发生影响认证的实质性技术变更，NIST 将通知购买者。注册（见附件或在线注册）将有助于通知。